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动态参数测试

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设备:半导体分立器件动态参数测试系统ITC57300

厂商:ITC

用途:用于测试 Si/SiC/GaNDiode,IGBT,MOSFET动态交流参数

测试标准:GJB 128B-20XXIEC 60747-8-2010MIL_STD_750F

技术指标:
1200V/100A,短路电流2500A

测试功能单元:
C57210-R 开关特性测试单元(阻性负载)
ITC57220 反向恢复特性测试单元
ITC57230 栅电荷特性测试单元(MOS
ITC57240 开关特性测试单元(感性负载)
ITC57250 短路特性测试单元


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