首页 > 检测中心 > 功率器件 > 材料 >

少子寿命测试

设备:外延片少子寿命测试仪WT-2000 Wafer Test System

厂商:匈牙利 SEMILAB

用途:1.厚外延少子寿命测试2.SiC电阻率测试

技术指标:少子寿命测试要求外延厚度>30um;规则样品宽度>10mm                    可以点测或连续面测


  • 地址:广东省东莞市松山湖国家高新区总部一号12栋5楼

  • 电话:0769-33882377

  • 邮箱:nfjc@cwbg-nf.com

  • 传真:0769-23078230

0


备案号:粤ICP备2023038869号

首页
电话
邮件
联系